表面分析受託サービスのナノサイエンス
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各種表面分析受託サービス
各種分析手法
■ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染、有機物など)
SIMS (二次イオン質量分析)
GDMS (グロー放電質量分析)
ICP-OES (高周波誘導結合プラズマ発光分析)
LA-ICP/MS (レーザー照射型 誘導結合プラズマ質量分析)
IGA (ガス成分分析)
TOF-SIMS (飛行時間型二次イオン質量分析)
TXRF (全反射蛍光X線分析)
LEXES (低エネルギーX線分析)
SRP (広がり抵抗測定)
GCMS (ガスクロマトグラフ質量分析)
■ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど)
RBS/HFS/PIXE/NRA (ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析/粒子励起X線分析/核反応分析)
XPS/ESCA (X線光電子分光分析)
TEM-EDS (透過型電子顕微鏡)
SEM-EDS(走査型電子顕微鏡)
XRR (X線反射率測定)
AES, 300mm wafer AES (オージェ電子分光分析)
■ 形態観察/構造解析 (形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など)
TEM (透過電子顕微鏡)
FE-SEM (走査型電子顕微鏡)
AFM/SCPM/SCM (原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡/走査型容量顕微鏡)
XRD (X線回折)
μFTIR (フーリエ変換赤外分光分析)
Raman (ラマン分光分析)
各種表面分析手法の検出感度と分析領域の大きさ
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