表面分析受託サービス及び信頼性試験受託サービスのナノサイエンス

分析豆知識の情報を更新しました

AES分析とEDS分析の使い分けは？を追加しました。

EAG・ナノ サイエンスセミナー2012 ＜基礎セミナー＞

第9回プロセスエンジニア向け分析基礎セミナー(B-1)は募集を終了いたしました。
多数のお申し込みありがとうございました。

分析豆知識の情報を更新しました

TEM分析における試料作製方法を追加しました。

分析事例紹介【表面分析受託サービス】の情報を更新しました

GDMSによるレアメタル・レアアース材料の純度評価を追加しました。

分析豆知識の情報を更新しました

TEM分析の豆知識「TEMで観察できる結晶欠陥の種類」、GDMS分析の豆知識「高感度なバルク分析手法」を追加しました。

分析豆知識の情報を更新しました

TEM分析の豆知識「TEM像のコントラストの種類」、RBS/HFS分析の豆知識「RBSでは結晶性の評価も可能です」を追加しました。

ORS社による分析サービス内容を更新しました

＊詳細はこちら

分析豆知識の情報を更新しました

TEM分析の豆知識「暗視野観察の有効性」、RBS/HFS分析の豆知識「RBS装置でも水素の分析が出来ます」を追加しました。

分析豆知識

TEM分析の豆知識「TEM-EDSとTEM-EELSの使い分け」、RBS/HFS分析の豆知識「RBSスペクトルの見方について」を追加しました。

分析豆知識

TEM分析の豆知識「TEMとSTEMの違い(使い分けについて)」、RBS/HFS分析の豆知識「RBSはこんな用途に便利な手法です」を掲載いたしました。

医療デバイスに関するアプリケーションを紹介します。

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SIMSデータ閲覧ソフト更新のお知らせ

SIMS Viewの最新版がダウンロード出来るようになりました。[Ver 2.0.0.35]
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