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医療デバイス
AES分析とEDS分析の使い分けは?を追加しました。
第9回プロセスエンジニア向け分析基礎セミナー(B-1)は募集を終了いたしました。多数のお申し込みありがとうございました。
TEM分析における試料作製方法を追加しました。
GDMSによるレアメタル・レアアース材料の純度評価を追加しました。
TEM分析の豆知識「TEMで観察できる結晶欠陥の種類」、GDMS分析の豆知識「高感度なバルク分析手法」を追加しました。
TEM分析の豆知識「TEM像のコントラストの種類」、RBS/HFS分析の豆知識「RBSでは結晶性の評価も可能です」を追加しました。
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TEM分析の豆知識「暗視野観察の有効性」、RBS/HFS分析の豆知識「RBS装置でも水素の分析が出来ます」を追加しました。
TEM分析の豆知識「TEM-EDSとTEM-EELSの使い分け」、RBS/HFS分析の豆知識「RBSスペクトルの見方について」を追加しました。
TEM分析の豆知識「TEMとSTEMの違い(使い分けについて)」、RBS/HFS分析の豆知識「RBSはこんな用途に便利な手法です」を掲載いたしました。
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SIMS Viewの最新版がダウンロード出来るようになりました。[Ver 2.0.0.35] 詳しくはこちらのページをご覧下さい。
SIMS,GDMSをはじめとした不純物分析や、RBS,TEM及びXRDによる組成分析・構造解析にいたるまで、30年以上の豊富な経験を活かし幅広い表面分析サービスをご提供いたします。
各種電子部品の信頼性試験(環境試験、ESD試験等々)からその故障解析(EMMS,CSAM)にいたるまで、様々な場面でのご利用をお待ちしております。
各種表面分析手法(不純物分析,組成分析,形態観察)及び信頼性試験による分析事例を紹介します。
各種SIMS標準試料の販売及びイオン注入サービスをご提供します。また、ESCA,AES及びEPMA用スタンダードも幅広く取り揃えております。