表面分析受託サービスのナノサイエンス

• 採用情報
• ｜
• サイトマップ
• ｜
• ホーム

信頼性試験後の異常箇所の評価

各種信頼性試験後に、異常箇所の特定をX線顕微鏡や超音波顕微鏡（CSAM）を使って行うことができます。

X線顕微鏡観察例

異常箇所特定後、異常箇所の断面をSEMで観察することができます。

異常箇所の断面観察の一例