表面分析受託サービスのナノサイエンス
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> 分析事例紹介【信頼性試験受託サービス】:ESD(静電気破壊)試験後の異常箇所評価
信頼性試験後の異常箇所の評価
エミッション顕微鏡による発光箇所の解析
ESD(静電気破壊)試験後の異常箇所評価
ESD(静電気破壊)試験後の異常箇所評価
ESD試験後の電気特性評価で異常が確認された試料の解析事例。
X線顕微鏡観察、裏面エミッション測定、SEMを用いての原因調査が可能です。