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Arガスクラスターイオンガン(GCIB)搭載TOF-SIMS装置を導入!

極低損傷のスパッタリングが可能になりました。以下のような分析に適していますので是非ご利用下さい。

  1. 有機物の深さ方向分析
  2. 高感度高分子フラグメント測定
  3. 分子情報のマッピング測定 など

インフォメーション

2014/03/31

分析豆知識の情報を更新しました

分析中に分布が変化するガラス中のアルカリ金属分析膜の厚さと密度が同時に分かるXRR分析を追加しました。

2013/02/19

イベント情報を更新しました。 詳細はこちら >>

2014/01/29

【基礎セミナー】2014年2月21日(金)開催

定員になりましたので締切りました。
たくさんのご応募ありがとうございました。

2013/12/02

分析豆知識の情報を更新しました

SEMとTEMの使い分けAFMは意外と広い分野で使える観察手法ですを追加しました。

2013/11/28

【応用セミナー】2013年11月28日(木)

本件は終了しました。たくさんのご応募ありがとうございました。

2013/08/06

展示会出展情報を更新しました。 詳細はこちら >>

2013/06/03

分析豆知識の情報を更新しました

SEMで見ているもの、見えるもの 1二次電子を追加しました。

2013/05/02

分析事例紹介【表面分析受託サービス】の情報を更新しました

SIMS分析による各種ガラス材料の不純物深さ方向分析を追加しました。

2013/03/25

分析豆知識の情報を更新しました

GDMSとICPの使い分けは?マッピング分析が可能なTXRFを追加しました。

分析事例の情報を更新しました

新規導入装置のご紹介 AC(Aberration-Corrected )-STEMを追加しました。

2012/09/24

分析豆知識の情報を更新しました

XPSのデータの見方とわかり易い応用例を追加しました。

2012/07/30

分析豆知識の情報を更新しました

TOF-SIMSはこんな用途に便利な手法です300mmウエハ表面の微小異物分析ができますを追加しました。

2012/07/30

分析事例紹介【表面分析受託サービス】の情報を更新しました

EBSD(電子線後方散乱回折法)についてを追加しました。

2012/05/31

分析豆知識の情報を更新しました

TOF-SIMSのデータの見方AES分析データの見方とわかりやすい応用例を追加しました。

2012年7月6日開催

EAG・ナノ サイエンスセミナー2012 <基礎セミナー>

定員になりましたので締切りました。
たくさんのご応募ありがとうございました。
次回の基礎セミナーは2013年2月頃を予定しております。

2012/05/16

サイト内検索の不具合を修正しました

2012/05/09

第25回インターフェックスジャパンに出展いたします

会期:2012年6月27日(水)-29日(金) 詳細を追加しました。 詳細はこちら>>

2012/04/02

分析豆知識の情報を更新しました

AES分析とXPS分析の使い分けは?GDMS分析の盲点を追加しました。

2012/01/26

分析豆知識の情報を更新しました

AES分析とEDS分析の使い分けは?を追加しました。

2011/11/30

分析豆知識の情報を更新しました

TEM分析における試料作製方法を追加しました。

2011/11/30

分析事例紹介【表面分析受託サービス】の情報を更新しました

GDMSによるレアメタル・レアアース材料の純度評価を追加しました。

2011/06/13

ORS社による分析サービス内容を更新しました

*詳細はこちら

2011/04/01

分析豆知識

TEM分析の豆知識「TEM-EDSとTEM-EELSの使い分け」RBS/HFS分析の豆知識「RBSスペクトルの見方について」を追加しました。

2011/01/19

分析豆知識

TEM分析の豆知識「TEMとSTEMの違い(使い分けについて)」、RBS/HFS分析の豆知識「RBSはこんな用途に便利な手法です」を掲載いたしました。

2010/09/28

医療デバイスに関するアプリケーションを紹介します。

医療デバイスのページへ

2010/05/17

SIMSデータ閲覧ソフト更新のお知らせ

SIMS Viewの最新版がダウンロード出来るようになりました。[Ver 2.0.0.35]
詳しくはこちらのページをご覧下さい。

2010/05/17

弊社Webサイトがリニューアル致しました。

表面分析受託サービス

SIMS,GDMSをはじめとした不純物分析や、RBS,TEM及びXRDによる組成分析・構造解析にいたるまで、30年以上の豊富な経験を活かし幅広い表面分析サービスをご提供いたします。

詳細ページへ

信頼性試験受託サービス

各種電子部品の信頼性試験(環境試験、ESD試験等々)からその故障解析(EMMS,CSAM)にいたるまで、様々な場面でのご利用をお待ちしております。

詳細ページへ

分析事例紹介

各種表面分析手法(不純物分析,組成分析,形態観察)及び信頼性試験による分析事例を紹介します。

表面分析受託サービス 詳細ページへ

信頼性試験受託サービス詳細ページへ

標準試料販売

各種SIMS標準試料の販売及びイオン注入サービスをご提供します。
また、ESCA,AES及びEPMA用スタンダードも幅広く取り揃えております。

詳細ページへ
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    [2014/3/19 更新]
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